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产品简介
AccuTemp(In-Situ 4000)工艺监控仪可以闭环监控与控制多层薄膜生长。
用于MBE、MOCVD以及CIGS等系统中。
AccuTemp提供实时、准确的工艺信息,包括衬底温度、薄膜厚度、生长速率。
该仪器放置在一个观察窗上。
采用双色红外高温测量仪测量温度,该测量仪对观察窗口的附着物不敏感,还可以校准误差。
另一部件辐射仪,用来补偿发射率的变化,纠正高温测量仪的温度测量值。
Bandgap模块可选,它可以监控很低的衬底温度,还可以进行高温测量仪的简单校准。两个独立的光学反射信号用于分析并实时提供厚度、生长速率及折射系数。
典型应用
AccuTemp典型应用于 GaN,GaAs,ZnO,CIGS,Si, ZnTe,SiC,MCT以及STO。
AccuTemp 既可用于研究型设备也可用于生产型设备。
Bandgap模块可以使IS4K测量低于高温计范围的材料温度,例如在生长GaAs、GaSb及Si材料时可以使用。
特点
●一个窗口就可以同时、实时测量温度和厚度
●采用双波长用于穿过窗口涂层,进行透明度补偿
●采用发射率补偿,提供真实温度
●闭环控制
●Bandgap模块用于低温测量和校准
高温仪温度范围 | 450oC - 1,300oC |
Bandgap模块 | 室温 - 700oC |
衬底材料 | Si, GaAs, InP, 蓝宝石,STO,Gasb,MCT等 |
辐射仪波长 | 950,850nm |
噪声等效温差 | <0.5oC |
反射仪波长 | 950,470nm |
噪音等效厚度差 | <1nm @ film>100nm |
靶距离范围 | >7mmΦ |
测量斑点大小 | 1KW-5KW |
观察窗 | 2.75''CF(4.5''CF如果带边) |
尺寸 | 100×140×130mm |
对正方法 | 视频监控器 |
计算机要求 | Windows XP, 序列端口界面 |
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